IDDQ testing of VLSI circuits - Gulati, Ravi K.; Hawkins, Charles F. (Kluwer Academic Publishers, 1997)
"A Special issue of Journal of electronic testing: theory and applications."
"Reprinted from Journal of electronic testing: theory and applications, vol. 3, no. 4."
Το DDQ είναι σε μορφή δείκτη στο IDDQ του τίτλου.