Εμφανίζονται
1 - 3
Αποτελέσματα από
3
για την αναζήτηση '
Wang, Laung-Terng
'
Μετάβαση στο περιεχόμενο
VuFind
Γλώσσα
English
Ελληνικά
Όλα τα πεδία
Τίτλος
Συγγραφέας
Θέμα
Ταξιθετικός Αριθμός
ISBN/ISSN
Ετικέτα
Αναζήτηση
Σύνθετη
Συγγραφέας
Wang, Laung-Terng
Εμφανίζονται
1 - 3
Αποτελέσματα από
3
για την αναζήτηση '
Wang, Laung-Terng
'
, χρόνος αναζήτησης: 0,01δλ
Περιορισμός αποτελεσμάτων
Ταξινόμηση
Ανά σχετικότητα
Ανά Ημερομηνία (φθιν.)
Ανά Ημερομηνία (αυξ.)
Ανα Ταξιθετικό Αριθμό
Ανά συγγραφέα
Ανά Τίτλο
1
VLSI test principles and architectures : design for testability /
Έκδοση 2006
Άλλοι συγγραφείς:
“…
Wang
,
Laung
-
Terng
…”
Ταξιθετικός Αριθμός:
Φορτώνει…
Βρίσκεται σε:
Φορτώνει…
Βιβλίο
Φορτώνει…
2
VLSI test principles and architectures : design for testability /
Έκδοση 2006
Άλλοι συγγραφείς:
“…
Wang
,
Laung
-
Terng
…”
Ταξιθετικός Αριθμός:
Φορτώνει…
Βρίσκεται σε:
Φορτώνει…
Βιβλίο
Φορτώνει…
3
System-on-chip test architectures : nanometer design for testability /
Έκδοση 2008
Άλλοι συγγραφείς:
“…
Wang
,
Laung
-
Terng
…”
Ταξιθετικός Αριθμός:
Φορτώνει…
Βρίσκεται σε:
Φορτώνει…
Βιβλίο
Φορτώνει…
Εργαλεία αναζήτησης:
Λήψη RSS
–
Αποστολή αναζήτησης με email
Σχετικά θέματα
Ολοκλήρωση πολύ μεγάλης κλίμακας
Ολοκληρωμένα κυκλώματα
Βιβλιοθήκη & Κέντρο Πληροφόρησης
|
Πανεπιστήμιο Πατρών