Sequential analysis : tests and confidence intervals /

• Main Author: Siegmund, David 1941- (συγγραφέας.)
• Format: Book
• Language: English
• Published: New York : Springer-Verlag, 1985.
• Series: Springer series in statistics
• Subjects: Μαθηματική στατιστική
• Physical Description: xi, 272 σ. ; 25 εκ.
• Bibliography: Περιλαμβάνει βιβλιογραφία και ευρετήριο.
• ISBN: 0387961348