Point defects in semiconductors II experimental aspects

Λεπτομέρειες βιβλιογραφικής εγγραφής
Κύριος συγγραφέας: Bourgoin, Jacques
Άλλοι συγγραφείς: Lannoo, M.
Μορφή: Βιβλίο
Γλώσσα:Greek
Έκδοση: Berlin Heidelberg Springer - Verlag 1983
Σειρά:Springer series in solid state sciences 35
Θέματα:
LEADER 00934nam a2200265 u 4500
001 10020028
003 upatras
005 20160425002905.0
008 881025s1983 gre
020 |a 3540115153 
040 |a GR-PaULI  |c GR-PaULI 
100 1 |a Bourgoin, Jacques  |9 4377 
245 1 0 |a Point defects in semiconductors II  |b experimental aspects  |c Νικηφόρου Βρεττάκου 
260 |a Berlin Heidelberg  |b Springer - Verlag  |c 1983 
300 |a xvi, 295 p.  |b fig.  |c 23 cm 
490 0 |a Springer series in solid state sciences  |v 35 
500 |a With a foreword by G. D. Watkins 
505 1 |a Includes references, subject index 
650 4 |a Ημιαγωγοί  |9 722 
700 1 |a Lannoo, M.  |9 125721 
760 1 |a Springer series in solid-state sciences  |g 35 
852 |a GR-PaULI  |b ΠΑΤΡΑ  |t 1 
942 |2 ddc 
952 |0 0  |1 0  |4 0  |7 0  |9 178092  |d 2016-04-24  |l 0  |r 2016-04-24 00:00:00  |t 1  |w 2016-04-24 
999 |c 110458  |d 110458