Point defects in semiconductors II experimental aspects

Λεπτομέρειες βιβλιογραφικής εγγραφής
Κύριος συγγραφέας: Bourgoin, Jacques
Άλλοι συγγραφείς: Lannoo, M.
Μορφή: Βιβλίο
Γλώσσα:Greek
Έκδοση: Berlin Heidelberg Springer - Verlag 1983
Σειρά:Springer series in solid state sciences 35
Θέματα:

Παρόμοια τεκμήρια