Point defects in semiconductors II experimental aspects
Κύριος συγγραφέας: | Bourgoin, Jacques |
---|---|
Άλλοι συγγραφείς: | Lannoo, M. |
Μορφή: | Βιβλίο |
Γλώσσα: | Greek |
Έκδοση: |
Berlin Heidelberg
Springer - Verlag
1983
|
Σειρά: | Springer series in solid state sciences
35 |
Θέματα: |
Παρόμοια τεκμήρια
-
Point defects in semiconductors II experimental aspects
ανά: Bourgoin, Jacques, κ.ά.
Έκδοση: (1983) -
Defect electronics in semiconductors
ανά: Matare, Herbert F.
Έκδοση: (1971) -
Photoinduced defects in semiconductors
ανά: Redfield, David
Έκδοση: (1996) -
Semiconductors basic data
Έκδοση: (1996) -
Handbook on semiconductors
Έκδοση: (1994)