Point defects in semiconductors II experimental aspects

• Κύριος συγγραφέας: Bourgoin, Jacques
• Άλλοι συγγραφείς: Lannoo, M.
• Μορφή: Βιβλίο
• Γλώσσα: Greek
• Έκδοση: Berlin Heidelberg Springer - Verlag 1983
• Σειρά: Springer series in solid state sciences 35
• Θέματα: Ημιαγωγοί

Πίνακας περιεχομένων:

• Includes references, subject index