Manufacturing yield evaluation of VLSI/WSI systems
| Κύριος συγγραφέας: | |
|---|---|
| Μορφή: | Βιβλίο |
| Γλώσσα: | English |
| Έκδοση: |
Los Alamitos, California
IEEE Computer Society Press
1995
|
| Θέματα: |
| Φυσική περιγραφή: | x, 437 p. fig. 28 cm. |
|---|---|
| Βιβλιογραφία: | Includes references |
| ISBN: | 0818662921 |
