Manufacturing yield evaluation of VLSI/WSI systems

Λεπτομέρειες βιβλιογραφικής εγγραφής
Κύριος συγγραφέας: Ciciani, Bruno
Μορφή: Βιβλίο
Γλώσσα:English
Έκδοση: Los Alamitos, California IEEE Computer Society Press 1995
Θέματα:
LEADER 01088nam a2200265 u 4500
001 10020361
003 upatras
005 20210506064425.0
008 990128s1995 us eng
020 |a 0818662921 
040 |a GR-PaULI  |c GR-PaULI 
041 0 |a eng 
082 0 4 |a 621.395 
100 1 |a Ciciani, Bruno  |9 97261 
245 1 0 |a Manufacturing yield evaluation of VLSI/WSI systems  |c Bruno Ciciani 
260 |a Los Alamitos, California  |b IEEE Computer Society Press  |c 1995 
300 |a x, 437 p.  |b fig.  |c 28 cm. 
504 |a Includes references 
650 4 |a Ολοκληρωμένα κυκλώματα  |x Ολοκλήρωση πολύ μεγάλης κλίμακας  |9 35013 
650 4 |a Ολοκληρωμένα κυκλώματα  |9 9087 
852 |a GR-PaULI  |b ΠΑΤΡΑ  |b ΒΚΠ  |b ΒΣ1  |k ΑΣΧΞ  |h 621.395 C  |m 39195  |p 025000000439  |t 1 
942 |2 ddc  |c BK15 
952 |0 0  |1 0  |4 0  |6 621_395000000000000_C  |7 0  |9 179275  |a LISP  |b LISP  |c BSC  |d 2016-04-24  |i 39195  |l 0  |o 621.395 C  |p 025000000439  |r 2016-04-24 00:00:00  |t 1  |w 2016-04-24  |y BK15 
998 |c ΔΡΑΚΟΠΟΥΛΟΥ  |d 1999-01 
999 |c 111091  |d 111091