Photoinduced defects in semiconductors

Λεπτομέρειες βιβλιογραφικής εγγραφής
Κύριος συγγραφέας: Redfield, David
Άλλοι συγγραφείς: Bube, Richard H.
Μορφή: Βιβλίο
Γλώσσα:English
Έκδοση: Cambridge Cambridge University Press 1996
Σειρά:Cambridge studies in semiconductor physics and microelectronic engineering 4
Θέματα:
LEADER 01659nam a2200349 u 4500
001 10021516
003 upatras
005 20210608075008.0
008 990426s1996 uk eng
020 |a 0521461960 
040 |a GR-PaULI  |c GR-PaULI 
041 0 |a eng 
082 0 4 |a 621.381 52 
100 1 |a Redfield, David  |9 146069 
245 1 0 |a Photoinduced defects in semiconductors  |c David Redfield and Richard H. Bube 
260 |a Cambridge  |b Cambridge University Press  |c 1996 
300 |a x, 217 p.  |b fig.  |c 24 cm. 
490 0 |a Cambridge studies in semiconductor physics and microelectronic engineering  |v 4 
504 |a Includes references and index 
650 4 |a Ημιαγωγοί  |9 722 
650 4 |a Ημιαγωγοί  |x Ιδιότητες  |9 723 
650 4 |a Φωτοχημεία  |9 9209 
650 4 |9 29004  |a Ηλεκτρικός εξοπλισμός και συσκευές. 
700 1 |a Bube, Richard H.  |9 48558 
760 0 |a Cambridge studies in semiconductor physics and microelectronic engineering  |g 4 
852 |a GR-PaULI  |b ΠΑΤΡΑ  |b ΒΚΠ  |b ΒΣ1  |k ΑΣΧΞ  |h 621.381 52 R  |m 041935  |p 025000006307  |t 1 
852 |a GR-PaULI  |b ΠΑΤΡΑ  |b ΒΚΠ  |b ΒΣ1  |k ΑΣΧΞ  |h 621.381 52 R  |m 043742  |p 025000055987  |t 2 
942 |2 ddc  |c BK15 
952 |0 0  |1 0  |4 0  |6 621_381000000000000_52_R  |7 0  |9 183757  |a LISP  |b LISP  |c BSC  |d 2016-04-24  |i 041935  |l 1  |m 1  |o 621.381 52 R  |p 025000006307  |r 2019-06-26 00:00:00  |s 2019-05-23  |t 1  |w 2016-04-24  |y BK15 
952 |0 0  |1 0  |4 0  |6 621_381000000000000_52_R  |7 0  |9 183758  |a LISP  |b LISP  |c BSC  |d 2016-04-24  |i 043742  |l 0  |o 621.381 52 R  |p 025000055987  |r 2016-04-24 00:00:00  |t 2  |w 2016-04-24  |y BK15 
998 |c ΔΡΑΚΟΠΟΥΛΟΥ  |d 1999-04 
999 |c 113372  |d 113372