Structural and chemical analysis of materials X-ray, electron and neutron diffraction, X-ray, electron and ion spectrometry, electron microscopy

Λεπτομέρειες βιβλιογραφικής εγγραφής
Κύριος συγγραφέας: Eberhart, Jean Pierre
Μορφή: Βιβλίο
Γλώσσα:English
French
Έκδοση: Chichester John Wiley & Sons 1991
Θέματα:
Περιγραφή
Φυσική περιγραφή:xxx, 545 p. fig., tab. 24 cm.
Βιβλιογραφία:Includes appendix, references and index
ISBN:0471950149