Structural and chemical analysis of materials X-ray, electron and neutron diffraction, X-ray, electron and ion spectrometry, electron microscopy

Λεπτομέρειες βιβλιογραφικής εγγραφής
Κύριος συγγραφέας: Eberhart, Jean Pierre
Μορφή: Βιβλίο
Γλώσσα:English
French
Έκδοση: Chichester John Wiley & Sons 1991
Θέματα:
LEADER 01451nam a2200289 u 4500
001 10026373
003 upatras
005 20210117205939.0
008 960327s1991 uk eng
020 |a 0471950149 
040 |a GR-PaULI  |c GR-PaULI 
041 0 |a eng  |a fre 
082 0 4 |a 530.4 
100 1 |a Eberhart, Jean Pierre  |9 152266 
245 1 0 |a Structural and chemical analysis of materials  |b X-ray, electron and neutron diffraction, X-ray, electron and ion spectrometry, electron microscopy  |c J. P. Eberhart ; Translated by J. P. Eberhart; translated by J. P. Eberhart 
260 |a Chichester  |b John Wiley & Sons  |c 1991 
300 |a xxx, 545 p.  |b fig., tab.  |c 24 cm. 
504 |a Includes appendix, references and index 
650 4 |a Επιστήμη των υλικών  |9 1328 
650 4 |9 179  |a Φυσική της στερεάς κατάστασης 
852 |a GR-PaULI  |b ΠΑΤΡΑ  |b ΦΥΣΙΚΟ  |k ΑΕΧ-1  |h 530.4 EBE  |m 05689  |p 025000022331  |t 1 
852 |a GR-PaULI  |b ΠΑΤΡΑ  |b ΧΗΜΙΚΟ  |k ΑΣΧΞ  |h 530.4 E  |m 057058  |p 025000080484  |t 2 
942 |2 ddc  |c BK15 
952 |0 0  |1 0  |4 0  |6 530_400000000000000_EBE  |7 0  |9 196548  |a PHYS  |b PHYS  |d 2016-04-24  |i 05689  |l 0  |o 530.4 EBE  |p 025000022331  |r 2016-04-24 00:00:00  |t 1  |w 2016-04-24  |y BK15 
952 |0 0  |1 0  |4 0  |6 530_400000000000000_E  |7 0  |9 196549  |a CHEM  |b CHEM  |d 2016-04-24  |i 057058  |l 0  |o 530.4 E  |p 025000080484  |r 2016-04-24 00:00:00  |t 2  |w 2016-04-24  |y BK15 
998 |c ΠΑΝΑΓΟΠΟΥΛΟΥ  |d 2000-10 
999 |c 120582  |d 120582