Structural and chemical analysis of materials X-ray, electron and neutron diffraction, X-ray, electron and ion spectrometry, electron microscopy
Κύριος συγγραφέας: | Eberhart, Jean Pierre |
---|---|
Μορφή: | Βιβλίο |
Γλώσσα: | English French |
Έκδοση: |
Chichester
John Wiley & Sons
1991
|
Θέματα: |
Παρόμοια τεκμήρια
-
Electron optical applications in materials science /
ανά: Murr, Lawrence Eugene
Έκδοση: (1970) -
Principles of electronic ceramics
ανά: Hench, L. L.
Έκδοση: (1990) -
Fundamentals of engineering materials
ανά: Thornton, Peter A.
Έκδοση: (1985) -
Introductory materials science
ανά: Starfield, Martin J.
Έκδοση: (1972) -
Physical properties of materials
ανά: Lovell, M. C.
Έκδοση: (1976)