Applied logistic regression /

• Main Author: Hosmer, David W. (συγγραφέας.)
• Other Authors: Lemeshow, Stanley (συγγραφέας)
• Format: Book
• Language: English
• Published: New York : Wiley, c2000.
• Edition: 2nd ed.
• Series: Wiley series in probability and statistics
• Subjects: Ανάλυση παλινδρόμησης; Μαθηματική στατιστική
• Physical Description: xii, 375 σ. : πίν, σχ. ; 25 εκ.
• Bibliography: Περιλαμβάνει βιβλιογραφικές παραπομπές (σ. 354-367) και ευρετήριο.
• ISBN: 0471356328