Statistical methods for reliability data /

Bibliographic Details
Main Author: Meeker, William Q. (συγγραφέας)
Other Authors: Escobar, Luis A. (συγγραφέας)
Format: Book
Language:English
Published: New York : Wiley, c1998.
Series:Wiley series in probability and statistics. Applied probability and statistics.
Subjects:
Description
Physical Description:xxii, 680 σ. : σχ. ; 25 εκ.
Bibliography:Περιλαμβάνει βιβλιογραφικές παραπομπές (σ. 645-663) και ευρετήρια.
ISBN:0471143286