Παραπομπή σε μορφή APA (7η εκδ.)

Wang, L., Wu, C., & Wen, X. (2006). VLSI test principles and architectures: Design for testability. Elsevier Morgan Kaufmann Publishers.

Παραπομπή σε μορφή Chicago (17η εκδ.)

Wang, Laung-Terng, Cheng-Wen Wu, και Xiaoqing Wen. VLSI Test Principles and Architectures: Design for Testability. Amsterdam ; Boston: Elsevier Morgan Kaufmann Publishers, 2006.

Παραπομπή σε μορφή MLA (8th εκδ.)

Wang, Laung-Terng, et al. VLSI Test Principles and Architectures: Design for Testability. Elsevier Morgan Kaufmann Publishers, 2006.