Electron microscopy and analysis 1999 : proceedings of the Institute of Physics Electron Microscopy and Analysis Group conference, University of Sheffield, 24-27 August 1999 /

Λεπτομέρειες βιβλιογραφικής εγγραφής
Συγγραφή απο Οργανισμό/Αρχή: Institute of Physics (Great Britain). Electron Microscopy and Analysis Group
Άλλοι συγγραφείς: Kiely, C. J.
Μορφή: Ηλ. βιβλίο
Γλώσσα:English
Έκδοση: Bristol ; Philadelphia : Institute of Physics Pub., �1999.
Σειρά:Institute of Physics conference series ; no. 161.
Θέματα:
Διαθέσιμο Online:http://search.ebscohost.com/login.aspx?direct=true&scope=site&db=nlebk&AN=27512
LEADER 03050cam a2200541Ma 4500
001 ocm47008872
003 OCoLC
005 20190114101342.0
006 m o d
007 cr cn|||||||||
008 010219s1999 enka ob 101 0 eng d
010 |z  99058788  
040 |a N$T  |b eng  |e pn  |c N$T  |d OCL  |d OCLCQ  |d YDXCP  |d OCLCQ  |d HALAN  |d OCLCQ  |d TUU  |d OCLCQ  |d TNF  |d OCLCO  |d OCLCQ  |d OCLCF  |d OCLCQ  |d OCLCO  |d OCLCQ  |d OCL  |d OCLCO  |d OCLCQ  |d MWM  |d SUR  |d OCLCQ  |d SAV  |d QT7  |d LUE 
019 |a 533201202  |a 961650942  |a 962671633  |a 970723741  |a 984870227  |a 1007403081 
020 |a 0585347042  |q (electronic bk.) 
020 |a 9780585347042  |q (electronic bk.) 
020 |z 0750305770 
035 |a (OCoLC)47008872  |z (OCoLC)533201202  |z (OCoLC)961650942  |z (OCoLC)962671633  |z (OCoLC)970723741  |z (OCoLC)984870227  |z (OCoLC)1007403081 
050 4 |a QH212.E4  |b E3798 1999eb 
072 7 |a SCI  |x 023000  |2 bisacsh 
082 0 4 |a 502/.8/25  |2 21 
049 |a MAIN 
245 0 0 |a Electron microscopy and analysis 1999 :  |b proceedings of the Institute of Physics Electron Microscopy and Analysis Group conference, University of Sheffield, 24-27 August 1999 /  |c edited by C.J. Kiely. 
260 |a Bristol ;  |a Philadelphia :  |b Institute of Physics Pub.,  |c �1999. 
300 |a 1 online resource (xvii, 632 pages) :  |b illustrations. 
336 |a text  |b txt  |2 rdacontent 
337 |a computer  |b c  |2 rdamedia 
338 |a online resource  |b cr  |2 rdacarrier 
490 1 |a Institute of Physics conference series ;  |v no. 161 
504 |a Includes bibliographical references and indexes. 
505 0 0 |g Section 1  |t Plenary lectures --  |g Section 2  |t Interfaces and surfaces --  |g Section 3  |t Scanning electron microscopy --  |g Section 4  |t Electron crystallography --  |g Section 5  |t Analytical electron microscopy --  |g Section 6  |t High resolution electron microscopy --  |g Section 7  |t Advanced scanning probe techniques --  |g Section 8  |t Ceramics/carbon/composites --  |g Section 9  |t Metals/intermetallics --  |g Section 10  |t Catalysts/sensors/environmental materials --  |g Section 11  |t Semiconductors/superconductors. 
588 0 |a Print version record. 
590 |a OCLC  |b WorldCat Holdings 
590 |a eBooks on EBSCOhost  |b All EBSCO eBooks 
650 0 |a Electron microscopy  |v Congresses. 
650 7 |a SCIENCE  |x Electron Microscopes & Microscopy.  |2 bisacsh 
650 7 |a Electron microscopy.  |2 fast  |0 (OCoLC)fst00906682 
655 4 |a Electronic books. 
655 7 |a Conference papers and proceedings.  |2 fast  |0 (OCoLC)fst01423772 
700 1 |a Kiely, C. J. 
710 2 |a Institute of Physics (Great Britain).  |b Electron Microscopy and Analysis Group. 
776 0 8 |i Print version:  |t Electron microscopy and analysis 1999.  |d Bristol ; Philadelphia : Institute of Physics Pub., �1999  |z 0750305770  |w (DLC) 99058788  |w (OCoLC)42888129 
830 0 |a Institute of Physics conference series ;  |v no. 161. 
856 4 0 |u http://search.ebscohost.com/login.aspx?direct=true&scope=site&db=nlebk&AN=27512 
938 |a EBSCOhost  |b EBSC  |n 27512 
938 |a YBP Library Services  |b YANK  |n 2323942 
994 |a 92  |b GRPAT 
999 |c 138253  |d 138253