Electron microscopy and analysis 1999 : proceedings of the Institute of Physics Electron Microscopy and Analysis Group conference, University of Sheffield, 24-27 August 1999 /
Συγγραφή απο Οργανισμό/Αρχή: | Institute of Physics (Great Britain). Electron Microscopy and Analysis Group |
---|---|
Άλλοι συγγραφείς: | Kiely, C. J. |
Μορφή: | Ηλ. βιβλίο |
Γλώσσα: | English |
Έκδοση: |
Bristol ; Philadelphia :
Institute of Physics Pub.,
�1999.
|
Σειρά: | Institute of Physics conference series ;
no. 161. |
Θέματα: | |
Διαθέσιμο Online: | http://search.ebscohost.com/login.aspx?direct=true&scope=site&db=nlebk&AN=27512 |
Παρόμοια τεκμήρια
-
Low voltage electron microscopy : principles and applications /
Έκδοση: (2013) -
Correlative Light and Electron Microscopy IV
ανά: Wilson, Leslie
Έκδοση: (2019) -
Correlative light and electron microscopy /
Έκδοση: (2012) -
Aberration-corrected analytical transmission electron microscopy /
ανά: Brydson, Rik
Έκδοση: (2011) -
Correlative light and electron microscopy III /
Έκδοση: (2017)