Applied logistic regression /

• Main Author: Hosmer, David W.
• Other Authors: Lemeshow, Stanley
• Format: Book
• Language: English
• Published: New York : John Wiley, [c2000]
• Edition: 2nd ed.
• Series: Wiley series in probability and statistics. Texts and references section
• Subjects: Regression analysis; Ανάλυση παλινδρόμησης; ΟΙΚΟΝΟΜΕΤΡΙΚΑ ΜΟΝΤΕΛΑ
• Item Description: "A Wiley-Interscience publication."
• Physical Description: xii., 373 σ. : εικ. ; 25 εκ.
• Bibliography: Περιλαμβάνει βιβλιογραφικές παραπομπές και ευρετήριο.
• ISBN: 0471356328; 9780471356325