Παραπομπή σε μορφή APA (7η εκδ.)

Wang, L., Stroud, C. E., & Touba, N. A. (2008). System-on-chip test architectures: Nanometer design for testability. Morgan Kaufmann Publishers.

Παραπομπή σε μορφή Chicago (17η εκδ.)

Wang, Laung-Terng, Charles E. Stroud, και Nur A. Touba. System-on-chip Test Architectures: Nanometer Design for Testability. Amsterdam ; Boston: Morgan Kaufmann Publishers, 2008.

Παραπομπή σε μορφή MLA (8th εκδ.)

Wang, Laung-Terng, et al. System-on-chip Test Architectures: Nanometer Design for Testability. Morgan Kaufmann Publishers, 2008.