Point defects in semiconductors

Λεπτομέρειες βιβλιογραφικής εγγραφής
Κύριος συγγραφέας: Bourgoin, Jacques
Άλλοι συγγραφείς: Lannoo, Michel
Μορφή: Βιβλίο
Γλώσσα:English
Έκδοση: Berlin Springer Verlag
Σειρά:Springer series in solid-state sciences 35
LEADER 01078nam a2200289 u 4500
001 10034271
003 upatras
005 20210117195356.0
008 970324m1983 ge eng
020 |a 3540115153  |q (v.2) 
040 |a GR-PaULI  |c GR-PaULI 
041 0 |a eng 
082 0 4 |a 537.622 6 
100 1 |a Bourgoin, Jacques  |9 4377 
245 1 0 |a Point defects in semiconductors  |c J. Bourgoin, M. Lannoo 
260 |a Berlin  |b Springer Verlag 
300 |a 1 v.  |b fig., tab.  |c 24 cm. 
490 0 |a Springer series in solid-state sciences  |v 35 
504 |a Includes references and index 
505 1 |a v.2. Experimental aspects / with a foreword by G. D. Watkins. - xvi, 295 p. - 1983. 
700 1 |a Lannoo, Michel  |9 4378 
760 0 |a Springer series in solid-state sciences  |g 35 
852 |a GR-PaULI  |b ΠΑΤΡΑ  |b ΦΥΣΙΚΟ  |k ΑΕΧ-1  |h 537.622 6 BOU 
942 |2 ddc  |c BK15 
952 |0 0  |1 0  |4 0  |6 537_622000000000000_6_BOU  |7 0  |9 3617  |a PHYS  |b PHYS  |d 2016-04-24  |l 0  |o 537.622 6 BOU  |r 2016-04-24 00:00:00  |w 2016-04-24  |y BK15 
998 |c ΔΡΑΚΟΠΟΥΛΟΥ  |d 2001-11 
999 |c 1894  |d 1894