Point defects in semiconductors

• Κύριος συγγραφέας: Bourgoin, Jacques
• Άλλοι συγγραφείς: Lannoo, Michel
• Μορφή: Βιβλίο
• Γλώσσα: English
• Έκδοση: Berlin Springer Verlag
• Σειρά: Springer series in solid-state sciences 35

Πίνακας περιεχομένων:

• v.2. Experimental aspects / with a foreword by G. D. Watkins. - xvi, 295 p. - 1983.