Fundamentals of modern VLSI devices
Κύριος συγγραφέας: | Taur, Yuan 1946- |
---|---|
Άλλοι συγγραφείς: | Ning, Tak H. 1943- |
Μορφή: | Βιβλίο |
Γλώσσα: | English |
Έκδοση: |
New York
Cambridge University Press
1998
|
Θέματα: |
Παρόμοια τεκμήρια
-
IDDQ testing of VLSI circuits /
Έκδοση: (1997) -
VLSI CAD tools and applications /
Έκδοση: (1987) -
The design and analysis of VLSI circuits /
ανά: Glasser, Lance A.
Έκδοση: (1985) -
VLSI test principles and architectures : design for testability /
Έκδοση: (2006) -
VLSI test principles and architectures : design for testability /
Έκδοση: (2006)