Testing semiconductor memories : theory and practice /

• Main Author: Goor, A. J. van de (συγγραφέας.)
• Format: Book
• Language: English
• Published: Chichester ; New York : J. Wiley & Sons, 1991.
• Subjects: Ημιαγωγοί
• Physical Description: xxiii, 512 σ. : εικ. ; 24 εκ.
• Bibliography: Περιλαμβάνει βιβλιογραφικές παραπομπές και ευρετήριο.
• ISBN: 0471925861