Bushnell, M. L., & Agrawal, V. D. (2000). Essentials of electronic testing for digital, memory and mixed-signal VLSI circuits. Kluwer Academic Publishers.
Παραπομπή σε μορφή Chicago (17η εκδ.)Bushnell, Michael L., και Vishwani D. Agrawal. Essentials of Electronic Testing for Digital, Memory and Mixed-signal VLSI Circuits. Boston ; Dordrecht ; London: Kluwer Academic Publishers, 2000.
Παραπομπή σε μορφή MLA (8th εκδ.)Bushnell, Michael L., και Vishwani D. Agrawal. Essentials of Electronic Testing for Digital, Memory and Mixed-signal VLSI Circuits. Kluwer Academic Publishers, 2000.
Πρόσοχή: Οι παραπομπές μπορεί να μην είναι 100% ακριβείς.