Essentials of electronic testing for digital, memory and mixed-signal VLSI circuits /

Λεπτομέρειες βιβλιογραφικής εγγραφής
Κύριος συγγραφέας: Bushnell, Michael L. 1950-
Άλλοι συγγραφείς: Agrawal, Vishwani D., 1943- (συγγραφέας)
Μορφή: Βιβλίο
Γλώσσα:English
Έκδοση: Boston ; Dordrecht ; London: Kluwer Academic Publishers, c2000.
Σειρά:Frontiers in electronic testing
Θέματα:
LEADER 01449nam a2200277 i 4500
003 GR-PaULI
005 20250213130758.0
008 250211s2000 enka|||f b||| 001 0 eng d
020 |a 9780792379911 
040 |a GR-PaULI  |b gre  |c GR-PaULI  |e AACR2 
082 0 4 |2 23  |a 621.395 
100 1 |a Bushnell, Michael L.  |d 1950-  |9 203772 
245 1 0 |a Essentials of electronic testing for digital, memory and mixed-signal VLSI circuits /   |c Michael L. Bushnell, Vishwani D. Agrawal. 
260 |a Boston ; Dordrecht ; London:   |b Kluwer Academic Publishers,   |c c2000. 
300 |a xviii, 690 σ. ;  |c 25 εκ. 
490 1 |a Frontiers in electronic testing 
504 |a Περιέχει βιβλιογραφια [σ. 631-670] και ευρετήριο. 
650 0 |a Ηλεκτρονικά κυκλώματα  |x Τεστ  |9 75005 
650 0 |a Ψηφιακά ολοκληρωμένα κυκλώματα  |9 124486 
700 1 |a Agrawal, Vishwani D.,  |d 1943-  |9 203771  |e συγγραφέας 
830 0 |a Frontiers in electronic testing  |9 187118 
942 |2 ddc  |c BK15 
952 |0 0  |1 0  |2 ddc  |4 0  |6 621_395000000000000_BUS  |7 0  |9 387475  |a LISK  |b LISK  |c BSC  |d 2025-02-13  |i 71421  |l 0  |o 621.395 BUS  |p 992410071421  |r 2025-02-13 13:09:40  |t 1  |w 2025-02-13  |y BK15 
952 |0 0  |1 0  |2 ddc  |4 0  |6 621_395000000000000_BUS  |7 0  |9 387477  |a LISK  |b LISK  |c BSC  |d 2025-02-13  |i 71431  |l 0  |o 621.395 BUS  |p 992410071431  |r 2025-02-13 13:11:55  |t 2  |w 2025-02-13  |y BK15 
998 |c ΧΡΙΣΤΟΠΟΥΛΟΥ  |d  2025-02 
999 |c 224814  |d 224814