Essentials of electronic testing for digital, memory and mixed-signal VLSI circuits /
Κύριος συγγραφέας: | Bushnell, Michael L. 1950- |
---|---|
Άλλοι συγγραφείς: | Agrawal, Vishwani D., 1943- (συγγραφέας) |
Μορφή: | Βιβλίο |
Γλώσσα: | English |
Έκδοση: |
Boston ; Dordrecht ; London:
Kluwer Academic Publishers,
c2000.
|
Σειρά: | Frontiers in electronic testing
|
Θέματα: |
Παρόμοια τεκμήρια
-
High-speed digital circuits /
ανά: Shoji, Masakazu, 1936-
Έκδοση: (1996) -
Building a successful board-test strategy
ανά: Scheiber, Stephen F
Έκδοση: (2001) -
Introduction to ID̳D̳Q̳ testing /
ανά: Chakravarty, Sreejit
Έκδοση: (1997) -
Essentials of electronic testing for digital, memory, and mixed-signal VLSI circuits /
ανά: Bushnell, Michael L. (Michael Lee), 1950-
Έκδοση: (2000) -
VLSI systems design for digital signal processing /
ανά: Bowen, B. A., κ.ά.
Έκδοση: (1982)