Secondary school examinations : international perspectives on policies and practice /

• Main Author: Eckstein, Max A. (συγγραφέας.)
• Other Authors: Noah, Harold J. (συγγραφέας.)
• Format: Book
• Language: English
• Published: New Haven : Yale University Press, c1993.
• Subjects: Εκπαίδευση και κράτος; Εκπαιδευτικά τεστ και μετρήσεις; Εκπαίδευση, Συγκριτική; Εκπαίδευση, Μέση > Εξετάσεις, ερωτήσεις κλπ.
• Physical Description: xi, 283 σ. : εικ. ; 25 εκ.
• Bibliography: Περιλαμβάνει βιβλιογραφικές παραπομπές και ευρετήριο.
• ISBN: 0300053932