Scanning Microscopy for Nanotechnology Techniques and Applications

Λεπτομέρειες βιβλιογραφικής εγγραφής
Κύριος συγγραφέας: Zhou, Weilie
Άλλοι συγγραφείς: Wang, Zhong Lin
Μορφή: Ηλεκτρονική πηγή Εργαλειοθήκη Βιβλίο
Γλώσσα:English
Έκδοση: New York, NY Springer Science+Business Media, LLC 2007
Θέματα:
Διαθέσιμο Online:http://dx.doi.org/10.1007/978-0-387-39620-0
LEADER 01178nom a2200325 u 4500
001 10069528
003 upatras
005 20210510145218.0
008 090512s2007 eng
020 |a 9780387396200 
040 |a GR-PaULI  |c GR-PaULI 
041 0 |a eng 
100 1 |a Zhou, Weilie  |9 64443 
245 1 0 |a Scanning Microscopy for Nanotechnology  |h [electronic resource]  |b Techniques and Applications  |c edited by Weilie Zhou, Zhong Lin Wang 
260 |a New York, NY  |b Springer Science+Business Media, LLC  |c 2007 
300 |b v.: digital 
650 4 |a Nanotechnology  |9 19191 
650 4 |a Optical materials  |9 64444 
650 4 |a Μέτρα και σταθμά  |9 64445 
650 4 |a Chemistry  |9 11013 
650 4 |a Nanotechnology  |9 19191 
650 4 |a Characterization and Evaluation of Materials  |9 64421 
650 4 |a Optical and Electronic Materials  |9 64446 
650 4 |a Γεωδαισία  |9 64447 
700 1 |a Wang, Zhong Lin  |9 47933 
852 |a GR-PaULI  |b ΠΑΤΡΑ  |b ΒΚΠ 
856 4 0 |u http://dx.doi.org/10.1007/978-0-387-39620-0 
942 |2 ddc 
952 |0 0  |1 0  |4 0  |7 0  |9 70973  |a LISP  |b LISP  |d 2016-04-24  |l 0  |r 2016-04-24 00:00:00  |w 2016-04-24  |y ERS 
999 |c 45774  |d 45774