Egerton, R. F. (2005). Physical Principles of Electron Microscopy: An Introduction to TEM, SEM, and AEM. Springer Science+Business Media, Inc.
Παραπομπή σε μορφή Chicago (17η εκδ.)Egerton, Ray F. Physical Principles of Electron Microscopy: An Introduction to TEM, SEM, and AEM. Boston, MA: Springer Science+Business Media, Inc, 2005.
Παραπομπή σε μορφή MLA (8th εκδ.)Egerton, Ray F. Physical Principles of Electron Microscopy: An Introduction to TEM, SEM, and AEM. Springer Science+Business Media, Inc, 2005.
Πρόσοχή: Οι παραπομπές μπορεί να μην είναι 100% ακριβείς.