Physical Principles of Electron Microscopy An Introduction to TEM, SEM, and AEM

• Κύριος συγγραφέας: Egerton, Ray F.
• Μορφή: Ηλεκτρονική πηγή Εργαλειοθήκη Βιβλίο
• Γλώσσα: English
• Έκδοση: Boston, MA Springer Science+Business Media, Inc. 2005
• Θέματα: Materials; Μικροσκόπια; Chemistry; Characterization and Evaluation Materials; Biological Microscopy
• Φυσική περιγραφή: v.: digital
• ISBN: 9780387260167