Physical Principles of Electron Microscopy An Introduction to TEM, SEM, and AEM

Λεπτομέρειες βιβλιογραφικής εγγραφής
Κύριος συγγραφέας: Egerton, Ray F.
Μορφή: Ηλεκτρονική πηγή Εργαλειοθήκη Βιβλίο
Γλώσσα:English
Έκδοση: Boston, MA Springer Science+Business Media, Inc. 2005
Θέματα:
Διαθέσιμο Online:http://dx.doi.org/10.1007/b136495
LEADER 00975nom a2200277 u 4500
001 10070483
003 upatras
005 20210202093925.0
008 090513s2005 eng
020 |a 9780387260167 
040 |a GR-PaULI  |c GR-PaULI 
041 0 |a eng 
100 1 |a Egerton, Ray F.  |9 66758 
245 1 0 |a Physical Principles of Electron Microscopy  |h [electronic resource]  |b An Introduction to TEM, SEM, and AEM  |c by Ray F. Egerton 
260 |a Boston, MA  |b Springer Science+Business Media, Inc.  |c 2005 
300 |b v.: digital 
650 4 |a Materials  |9 13218 
650 4 |a Μικροσκόπια  |9 1255 
650 4 |a Chemistry  |9 11013 
650 4 |a Characterization and Evaluation Materials  |9 64522 
650 4 |a Biological Microscopy  |9 64423 
852 |a GR-PaULI  |b ΠΑΤΡΑ  |b ΒΚΠ 
856 4 0 |u http://dx.doi.org/10.1007/b136495 
942 |2 ddc 
952 |0 0  |1 0  |4 0  |7 0  |9 71938  |a LISP  |b LISP  |d 2016-04-24  |l 0  |r 2016-04-24 00:00:00  |w 2016-04-24  |y ERS 
999 |c 46728  |d 46728