Physical Principles of Electron Microscopy An Introduction to TEM, SEM, and AEM

Λεπτομέρειες βιβλιογραφικής εγγραφής
Κύριος συγγραφέας: Egerton, Ray F.
Μορφή: Ηλεκτρονική πηγή Εργαλειοθήκη Βιβλίο
Γλώσσα:English
Έκδοση: Boston, MA Springer Science+Business Media, Inc. 2005
Θέματα:
Διαθέσιμο Online:http://dx.doi.org/10.1007/b136495

Διαδίκτυο

http://dx.doi.org/10.1007/b136495

ΒΚΠ - Πατρα: Unknown

Λεπτομέρειες τεκμηρίων από ΒΚΠ - Πατρα: Unknown
Ταξιθετικός Αριθμός: Unknown
Αντίγραφο Unknown Στη βιβλιοθήκη