CCD Image Sensors in Deep-Ultraviolet Degradation Behavior and Damage Mechanisms

Λεπτομέρειες βιβλιογραφικής εγγραφής
Κύριος συγγραφέας: Li, Flora M.
Άλλοι συγγραφείς: Nathan, Arokia
Μορφή: Ηλεκτρονική πηγή Εργαλειοθήκη Βιβλίο
Γλώσσα:English
Έκδοση: Berlin, Heidelberg Springer-Verlag Berlin Heidelberg 2005
Σειρά:Microtechnology and Mems
Θέματα:
Διαθέσιμο Online:http://dx.doi.org/10.1007/b139047
LEADER 01381nom a2200361 u 4500
001 10070539
003 upatras
005 20210421164048.0
008 090513s2005 eng
020 |a 9783540274124 
040 |a GR-PaULI  |c GR-PaULI 
041 0 |a eng 
100 1 |a Li, Flora M.  |9 66871 
245 1 0 |a CCD Image Sensors in Deep-Ultraviolet  |h [electronic resource]  |b Degradation Behavior and Damage Mechanisms  |c by Flora M. Li, Arokia Nathan 
260 |a Berlin, Heidelberg  |b Springer-Verlag Berlin Heidelberg  |c 2005 
300 |b v.: digital 
490 0 |a Microtechnology and Mems  |x 1615-8326 
650 4 |a Optical materials  |9 64444 
650 4 |a Electronics  |9 15695 
650 4 |a Engineering  |9 17712 
650 4 |a Φασματοσκοπική ανάλυση  |9 11571 
650 4 |a Chemistry  |9 11013 
650 4 |a Optical and Electronic Materials  |9 64446 
650 4 |a Electronics and Microelectronics, Instrumentation  |9 64430 
650 4 |a Physics and Applied Physics in Engineering  |9 64483 
650 4 |a Φασματομετρική ανάλυση  |9 214 
700 1 |a Nathan, Arokia  |9 66872 
760 1 |a Microtechnology and Mems  |x 1615-8326 
852 |a GR-PaULI  |b ΠΑΤΡΑ  |b ΒΚΠ 
856 4 0 |u http://dx.doi.org/10.1007/b139047 
942 |2 ddc 
952 |0 0  |1 0  |4 0  |7 0  |9 71994  |a LISP  |b LISP  |d 2016-04-24  |l 0  |r 2016-04-24 00:00:00  |w 2016-04-24  |y ERS 
999 |c 46784  |d 46784