CCD Image Sensors in Deep-Ultraviolet Degradation Behavior and Damage Mechanisms
Κύριος συγγραφέας: | Li, Flora M. |
---|---|
Άλλοι συγγραφείς: | Nathan, Arokia |
Μορφή: | Ηλεκτρονική πηγή Εργαλειοθήκη Βιβλίο |
Γλώσσα: | English |
Έκδοση: |
Berlin, Heidelberg
Springer-Verlag Berlin Heidelberg
2005
|
Σειρά: | Microtechnology and Mems
|
Θέματα: | |
Διαθέσιμο Online: | http://dx.doi.org/10.1007/b139047 |
Παρόμοια τεκμήρια
-
Semiconductor Optics
ανά: Klingshirn, Claus
Έκδοση: (2007) -
Semiconductor Optics
ανά: Klingshirn, Claus
Έκδοση: (2005) -
The Physics of Thin Film Optical Spectra An Introduction
ανά: Stenzel, Olaf
Έκδοση: (2005) -
Continuous-Time Sigma-Delta A/D Conversion Fundamentals, Performance Limits and Robust Implementations
ανά: Ortmanns, Maurits
Έκδοση: (2006) -
Force Sensors for Microelectronic Packaging Applications
ανά: Schwizer, JΓΌrg
Έκδοση: (2005)