CCD Image Sensors in Deep-Ultraviolet Degradation Behavior and Damage Mechanisms

• Κύριος συγγραφέας: Li, Flora M.
• Άλλοι συγγραφείς: Nathan, Arokia
• Μορφή: Ηλεκτρονική πηγή Εργαλειοθήκη Βιβλίο
• Γλώσσα: English
• Έκδοση: Berlin, Heidelberg Springer-Verlag Berlin Heidelberg 2005
• Σειρά: Microtechnology and Mems
• Θέματα: Optical materials; Electronics; Engineering; Φασματοσκοπική ανάλυση; Chemistry; Optical and Electronic Materials; Electronics and Microelectronics, Instrumentation; Physics and Applied Physics in Engineering; Φασματομετρική ανάλυση