Gettering Defects in Semiconductors
Κύριος συγγραφέας: | Perevoschikov, Victor A. |
---|---|
Άλλοι συγγραφείς: | Skoupov, Vladimir D. |
Μορφή: | Ηλεκτρονική πηγή Εργαλειοθήκη Βιβλίο |
Γλώσσα: | English |
Έκδοση: |
Berlin, Heidelberg
Springer Berlin Heidelberg
2005
|
Σειρά: | Springer Series in Advanced Microelectronics
19 |
Θέματα: | |
Διαθέσιμο Online: | http://dx.doi.org/10.1007/3-540-29499-6 |
Παρόμοια τεκμήρια
-
Shape and Functional Elements of the Bulk Silicon Microtechnique A Manual of Wet-Etched Silicon Structures
ανά: FrΓΌhauf, Joachim
Έκδοση: (2005) -
Gettering Defects in Semiconductors
ανά: Perevoschikov, Victor A., κ.ά.
Έκδοση: (2005) -
Inelastic Light Scattering of Semiconductor Nanostructures Fundamentals and Recent Advances
ανά: SchΓΌller, Christian
Έκδοση: (2006) -
Physical Testing of Rubber
ανά: Brown, Roger ((Roger P.))
Έκδοση: (2006) -
Batch Chemical Process Integration Analysis, Synthesis and Optimization
ανά: Majozi, Thokozani
Έκδοση: (2010)