Microscopy of Semiconducting Materials Proceedings of the 14th Conference, April 11–14, 2005, Oxford, UK

Microscopy of Semiconducting Materials Proceedings of the 14th Conference, April 11–14, 2005, Oxford, UK

Λεπτομέρειες βιβλιογραφικής εγγραφής
Κύριος συγγραφέας: Cullis, A. G.
Άλλοι συγγραφείς: Hutchison, J. L.
Μορφή: Ηλεκτρονική πηγή Εργαλειοθήκη Βιβλίο
Γλώσσα:English
Έκδοση: Berlin, Heidelberg Springer-Verlag Berlin Heidelberg 2005
Σειρά:Springer Proceedings in Physics 107
Θέματα:
Materials
Electronics
Particles (Nuclear physics)
Μέτρα και σταθμά
Chemistry
Materials Science
Electronics and Microelectronics, Instrumentation
Solid State Physics and Spectroscopy
Γεωδαισία
Διαθέσιμο Online:http://dx.doi.org/10.1007/3-540-31915-8
LEADER 01404nom a2200361 u 4500
001 10070548
003 upatras
005 20210510145218.0
008 090513s2005 eng
020 |a 9783540319153 
040 |a GR-PaULI  |c GR-PaULI 
041 0 |a eng 
100 1 |a Cullis, A. G.  |9 66885 
245 1 0 |a Microscopy of Semiconducting Materials  |h [electronic resource]  |b Proceedings of the 14th Conference, April 11–14, 2005, Oxford, UK  |c edited by A. G. Cullis, J. L. Hutchison 
260 |a Berlin, Heidelberg  |b Springer-Verlag Berlin Heidelberg  |c 2005 
300 |b v.: digital 
490 0 |a Springer Proceedings in Physics  |v 107  |x 0930-8989 
650 4 |a Materials  |9 13218 
650 4 |a Electronics  |9 15695 
650 4 |a Particles (Nuclear physics)  |9 19607 
650 4 |a Μέτρα και σταθμά  |9 64445 
650 4 |a Chemistry  |9 11013 
650 4 |a Materials Science  |9 64435 
650 4 |a Electronics and Microelectronics, Instrumentation  |9 64430 
650 4 |a Solid State Physics and Spectroscopy  |9 64425 
650 4 |a Γεωδαισία  |9 64447 
700 1 |a Hutchison, J. L.  |9 66886 
760 1 |a Springer Proceedings in Physics  |g 107  |x 0930-8989 
852 |a GR-PaULI  |b ΠΑΤΡΑ  |b ΒΚΠ 
856 4 0 |u http://dx.doi.org/10.1007/3-540-31915-8 
942 |2 ddc 
952 |0 0  |1 0  |4 0  |7 0  |9 72003  |a LISP  |b LISP  |d 2016-04-24  |l 0  |r 2016-04-24 00:00:00  |w 2016-04-24  |y ERS 
999 |c 46793  |d 46793 

Παρόμοια τεκμήρια