Introduction to Advanced System-on-Chip Test Design and Optimization

Λεπτομέρειες βιβλιογραφικής εγγραφής
Κύριος συγγραφέας: Larsson, Erik
Μορφή: Ηλεκτρονική πηγή Εργαλειοθήκη Βιβλίο
Γλώσσα:English
Έκδοση: Boston, MA Springer 2005
Σειρά:Frontiers in Electronic Testing 29
Θέματα:
Διαθέσιμο Online:http://dx.doi.org/10.1007/b135763