Introduction to Advanced System-on-Chip Test Design and Optimization

Λεπτομέρειες βιβλιογραφικής εγγραφής
Κύριος συγγραφέας: Larsson, Erik
Μορφή: Ηλεκτρονική πηγή Εργαλειοθήκη Βιβλίο
Γλώσσα:English
Έκδοση: Boston, MA Springer 2005
Σειρά:Frontiers in Electronic Testing 29
Θέματα:
Διαθέσιμο Online:http://dx.doi.org/10.1007/b135763
LEADER 01297nom a2200361 u 4500
001 10070939
003 upatras
005 20210117201632.0
008 090513s2005 eng
020 |a 9780387256245 
040 |a GR-PaULI  |c GR-PaULI 
041 0 |a eng 
100 1 |a Larsson, Erik  |9 18777 
245 1 0 |a Introduction to Advanced System-on-Chip Test Design and Optimization  |h [electronic resource]  |c by Erik Larsson 
260 |a Boston, MA  |b Springer  |c 2005 
300 |b v.: digital 
490 0 |a Frontiers in Electronic Testing  |v 29  |x 0929-1296 
650 4 |a Engineering  |9 17712 
650 4 |a Optical materials  |9 64444 
650 4 |a Computer engineering  |9 24296 
650 4 |a Electronics  |9 15695 
650 4 |a Engineering design  |9 64845 
650 4 |a Engineering  |9 17712 
650 4 |a Optical and Electronic Materials  |9 64446 
650 4 |a Electronic and Computer Engineering  |9 64855 
650 4 |a Electronics and Microelectronics, Instrumentation  |9 64430 
650 4 |a Engineering Design  |9 64846 
760 1 |a Frontiers in Electronic Testing  |g 29  |x 0929-1296 
852 |a GR-PaULI  |b ΠΑΤΡΑ  |b ΒΚΠ 
856 4 0 |u http://dx.doi.org/10.1007/b135763 
942 |2 ddc 
952 |0 0  |1 0  |4 0  |7 0  |9 72394  |a LISP  |b LISP  |d 2016-04-24  |l 0  |r 2016-04-24 00:00:00  |w 2016-04-24  |y ERS 
999 |c 47184  |d 47184