Fault Diagnosis of Analog Integrated Circuits

Λεπτομέρειες βιβλιογραφικής εγγραφής
Κύριος συγγραφέας: Kabisatpathy, Prithviraj
Άλλοι συγγραφείς: Barua, Alok, Sinha, Satyabroto
Μορφή: Ηλεκτρονική πηγή Εργαλειοθήκη Βιβλίο
Γλώσσα:English
Έκδοση: Boston, MA Springer 2005
Σειρά:Frontiers in Electronic Testing 30
Θέματα:
Διαθέσιμο Online:http://dx.doi.org/10.1007/b135977
LEADER 01392nom a2200385 u 4500
001 10070940
003 upatras
005 20210117201632.0
008 090513s2005 eng
020 |a 9780387257433 
040 |a GR-PaULI  |c GR-PaULI 
041 0 |a eng 
100 1 |a Kabisatpathy, Prithviraj  |9 67723 
245 1 0 |a Fault Diagnosis of Analog Integrated Circuits  |h [electronic resource]  |c by Prithviraj Kabisatpathy, Alok Barua, Satyabroto Sinha 
260 |a Boston, MA  |b Springer  |c 2005 
300 |b v.: digital 
490 0 |a Frontiers in Electronic Testing  |v 30  |x 0929-1296 
650 4 |a Engineering  |9 17712 
650 4 |a Computer engineering  |9 24296 
650 4 |a Electronics  |9 15695 
650 4 |a Engineering design  |9 64845 
650 4 |a Systems engineering  |9 64844 
650 4 |a Engineering  |9 17712 
650 4 |a Electronic and Computer Engineering  |9 64855 
650 4 |a Electronics and Microelectronics, Instrumentation  |9 64430 
650 4 |a Engineering Design  |9 64846 
650 4 |a Circuits and Systems  |9 24301 
700 1 |a Barua, Alok  |9 67724 
700 1 |a Sinha, Satyabroto  |9 67725 
760 1 |a Frontiers in Electronic Testing  |g 30  |x 0929-1296 
852 |a GR-PaULI  |b ΠΑΤΡΑ  |b ΒΚΠ 
856 4 0 |u http://dx.doi.org/10.1007/b135977 
942 |2 ddc 
952 |0 0  |1 0  |4 0  |7 0  |9 72395  |a LISP  |b LISP  |d 2016-04-24  |l 0  |r 2016-04-24 00:00:00  |w 2016-04-24  |y ERS 
999 |c 47185  |d 47185