Huisman, L. M. (2005). Data Mining and Diagnosing IC Fails. Springer Science+Business Media, Inc.
Παραπομπή σε μορφή Chicago (17η εκδ.)Huisman, Leendert M. Data Mining and Diagnosing IC Fails. Boston, MA: Springer Science+Business Media, Inc, 2005.
Παραπομπή σε μορφή MLA (8th εκδ.)Huisman, Leendert M. Data Mining and Diagnosing IC Fails. Springer Science+Business Media, Inc, 2005.
Πρόσοχή: Οι παραπομπές μπορεί να μην είναι 100% ακριβείς.