Data Mining and Diagnosing IC Fails

• Κύριος συγγραφέας: Huisman, Leendert M.
• Μορφή: Ηλεκτρονική πηγή Εργαλειοθήκη Βιβλίο
• Γλώσσα: English
• Έκδοση: Boston, MA Springer Science+Business Media, Inc. 2005
• Σειρά: Frontiers in Electronic Testing 31
• Θέματα: Engineering; Electronics; Systems engineering; Electronics and Microelectronics, Instrumentation; Circuits and Systems