Lifetime Spectroscopy A Method of Defect Characterization in Silicon for Photovoltaic Applications
| Κύριος συγγραφέας: | |
|---|---|
| Μορφή: | Ηλεκτρονική πηγή Εργαλειοθήκη Βιβλίο |
| Γλώσσα: | English |
| Έκδοση: |
Berlin, Heidelberg
Springer-Verlag Berlin Heidelberg
2005
|
| Σειρά: | Springer Series in Material Science
85 |
| Θέματα: | |
| Διαθέσιμο Online: | http://dx.doi.org/10.1007/3-540-27922-9 |
| Φυσική περιγραφή: | v.: digital |
|---|---|
| ISBN: | 9783540279228 |
| ISSN: | 0933-033X |
