Lifetime Spectroscopy A Method of Defect Characterization in Silicon for Photovoltaic Applications

Λεπτομέρειες βιβλιογραφικής εγγραφής
Κύριος συγγραφέας: Rein, Stefan
Μορφή: Ηλεκτρονική πηγή Εργαλειοθήκη Βιβλίο
Γλώσσα:English
Έκδοση: Berlin, Heidelberg Springer-Verlag Berlin Heidelberg 2005
Σειρά:Springer Series in Material Science 85
Θέματα:
Διαθέσιμο Online:http://dx.doi.org/10.1007/3-540-27922-9
LEADER 01181nom a2200313 u 4500
001 10072053
003 upatras
005 20210117201708.0
008 090513s2005 eng
020 |a 9783540279228 
040 |a GR-PaULI  |c GR-PaULI 
041 0 |a eng 
100 1 |a Rein, Stefan  |9 69963 
245 1 0 |a Lifetime Spectroscopy  |h [electronic resource]  |b A Method of Defect Characterization in Silicon for Photovoltaic Applications  |c by Stefan Rein 
260 |a Berlin, Heidelberg  |b Springer-Verlag Berlin Heidelberg  |c 2005 
300 |b v.: digital 
490 0 |a Springer Series in Material Science  |v 85  |x 0933-033X 
650 4 |a Physics  |9 20895 
650 4 |a Optical materials  |9 64444 
650 4 |a Particles (Nuclear physics)  |9 19607 
650 4 |a Physics  |9 20895 
650 4 |a Optical and Electronic Materials  |9 64446 
650 4 |a Solid State Physics and Spectroscopy  |9 64425 
760 1 |a Springer Series in Material Science  |g 85  |x 0933-033X 
852 |a GR-PaULI  |b ΠΑΤΡΑ  |b ΒΚΠ 
856 4 0 |u http://dx.doi.org/10.1007/3-540-27922-9 
942 |2 ddc 
952 |0 0  |1 0  |4 0  |7 0  |9 73509  |a LISP  |b LISP  |d 2016-04-24  |l 0  |r 2016-04-24 00:00:00  |w 2016-04-24  |y ERS 
999 |c 48298  |d 48298