Lifetime Spectroscopy A Method of Defect Characterization in Silicon for Photovoltaic Applications
Κύριος συγγραφέας: | Rein, Stefan |
---|---|
Μορφή: | Ηλεκτρονική πηγή Εργαλειοθήκη Βιβλίο |
Γλώσσα: | English |
Έκδοση: |
Berlin, Heidelberg
Springer-Verlag Berlin Heidelberg
2005
|
Σειρά: | Springer Series in Material Science
85 |
Θέματα: | |
Διαθέσιμο Online: | http://dx.doi.org/10.1007/3-540-27922-9 |
Παρόμοια τεκμήρια
-
Planewaves, Pseudopotentials and the LAPW Method
ανά: Singh, David J.
Έκδοση: (2006) -
Semiconductor Optics
ανά: Klingshirn, Claus
Έκδοση: (2007) -
Semiconductor Optics
ανά: Klingshirn, Claus
Έκδοση: (2005) -
Light Scattering in Solid IX
ανά: Cardona, Manuel, 1934-
Έκδοση: (2006) -
Introduction to Focused Ion Beams Instrumentation, Theory, Techniques and Practice
ανά: Giannuzzi, Lucille A.
Έκδοση: (2005)