Lifetime Spectroscopy A Method of Defect Characterization in Silicon for Photovoltaic Applications

• Κύριος συγγραφέας: Rein, Stefan
• Μορφή: Ηλεκτρονική πηγή Εργαλειοθήκη Βιβλίο
• Γλώσσα: English
• Έκδοση: Berlin, Heidelberg Springer-Verlag Berlin Heidelberg 2005
• Σειρά: Springer Series in Material Science 85
• Θέματα: Physics; Optical materials; Particles (Nuclear physics); Optical and Electronic Materials; Solid State Physics and Spectroscopy