Abstraction Refinement for Large Scale Model Checking

Λεπτομέρειες βιβλιογραφικής εγγραφής
Κύριος συγγραφέας: Wang, Chao
Άλλοι συγγραφείς: Hachtel, Gary D., Somenzi, Fabio
Μορφή: Ηλεκτρονική πηγή Εργαλειοθήκη Βιβλίο
Γλώσσα:English
Έκδοση: Boston, MA Springer Science+Business Media, LLC 2006
Σειρά:Series on Integrated Circuits and Systems
Θέματα:
Διαθέσιμο Online:http://dx.doi.org/10.1007/0-387-34600-7
LEADER 01347nom a2200361 u 4500
001 10073001
003 upatras
005 20210117201740.0
008 090513s2006 eng
020 |a 9780387346007 
040 |a GR-PaULI  |c GR-PaULI 
041 0 |a eng 
100 1 |a Wang, Chao  |9 71700 
245 1 0 |a Abstraction Refinement for Large Scale Model Checking  |h [electronic resource]  |c by Chao Wang, Gary D. Hachtel, Fabio Somenzi 
260 |a Boston, MA  |b Springer Science+Business Media, LLC  |c 2006 
300 |b v.: digital 
490 0 |a Series on Integrated Circuits and Systems  |x 1558-9412 
650 4 |a Engineering  |9 17712 
650 4 |a Computer engineering  |9 24296 
650 4 |a Computer aided design  |9 24299 
650 4 |a Systems engineering  |9 64844 
650 4 |a Engineering  |9 17712 
650 4 |a Electronic and Computer Engineering  |9 64855 
650 4 |a Computer-Aided Engineering (CAD, CAE) and Design  |9 64865 
650 4 |a Circuits and Systems  |9 24301 
700 1 |a Hachtel, Gary D.  |9 71701 
700 1 |a Somenzi, Fabio  |9 71702 
760 1 |a Series on Integrated Circuits and Systems  |x 1558-9412 
852 |a GR-PaULI  |b ΠΑΤΡΑ  |b ΒΚΠ 
856 4 0 |u http://dx.doi.org/10.1007/0-387-34600-7 
942 |2 ddc 
952 |0 0  |1 0  |4 0  |7 0  |9 74457  |a LISP  |b LISP  |d 2016-04-24  |l 0  |r 2016-04-24 00:00:00  |w 2016-04-24  |y ERS 
999 |c 49246  |d 49246