Gusev, E. (2006). Defects in High-k Gate Dielectric Stacks: Nano-Electronic Semiconductor Devices. Springer.
Παραπομπή σε μορφή Chicago (17η εκδ.)Gusev, Evgeni. Defects in High-k Gate Dielectric Stacks: Nano-Electronic Semiconductor Devices. Dordrecht: Springer, 2006.
Παραπομπή σε μορφή MLA (8th εκδ.)Gusev, Evgeni. Defects in High-k Gate Dielectric Stacks: Nano-Electronic Semiconductor Devices. Springer, 2006.
Πρόσοχή: Οι παραπομπές μπορεί να μην είναι 100% ακριβείς.