Defects in High-k Gate Dielectric Stacks Nano-Electronic Semiconductor Devices

Λεπτομέρειες βιβλιογραφικής εγγραφής
Κύριος συγγραφέας: Gusev, Evgeni
Μορφή: Ηλεκτρονική πηγή Εργαλειοθήκη Βιβλίο
Γλώσσα:English
Έκδοση: Dordrecht Springer 2006
Σειρά:NATO Science Series II: Mathematics, Physics and Chemistry 220
Θέματα:
Διαθέσιμο Online:http://dx.doi.org/10.1007/1-4020-4367-8
LEADER 01341nom a2200349 u 4500
001 10073029
003 upatras
005 20210117201741.0
008 090513s2006 eng
020 |a 9781402043673 
040 |a GR-PaULI  |c GR-PaULI 
041 0 |a eng 
100 1 |a Gusev, Evgeni  |9 71761 
245 1 0 |a Defects in High-k Gate Dielectric Stacks  |h [electronic resource]  |b Nano-Electronic Semiconductor Devices  |c edited by Evgeni Gusev 
260 |a Dordrecht  |b Springer  |c 2006 
300 |b v.: digital 
490 0 |a NATO Science Series II: Mathematics, Physics and Chemistry  |v 220  |x 1568-2609 
650 4 |a Engineering  |9 17712 
650 4 |a Computer engineering  |9 24296 
650 4 |a Electronics  |9 15695 
650 4 |a Condensed matter  |9 64428 
650 4 |a Engineering  |9 17712 
650 4 |a Electronic and Computer Engineering  |9 64855 
650 4 |a Electronics and Microelectronics, Instrumentation  |9 64430 
650 4 |a Physics and Applied Physics in Engineering  |9 64483 
650 4 |a Condensed Matter  |9 64429 
760 1 |a NATO Science Series II: Mathematics, Physics and Chemistry  |g 220  |x 1568-2609 
852 |a GR-PaULI  |b ΠΑΤΡΑ  |b ΒΚΠ 
856 4 0 |u http://dx.doi.org/10.1007/1-4020-4367-8 
942 |2 ddc 
952 |0 0  |1 0  |4 0  |7 0  |9 74485  |a LISP  |b LISP  |d 2016-04-24  |l 0  |r 2016-04-24 00:00:00  |w 2016-04-24  |y ERS 
999 |c 49274  |d 49274