Defects in High-k Gate Dielectric Stacks Nano-Electronic Semiconductor Devices

Λεπτομέρειες βιβλιογραφικής εγγραφής
Κύριος συγγραφέας: Gusev, Evgeni
Μορφή: Ηλεκτρονική πηγή Εργαλειοθήκη Βιβλίο
Γλώσσα:English
Έκδοση: Dordrecht Springer 2006
Σειρά:NATO Science Series II: Mathematics, Physics and Chemistry 220
Θέματα:
Διαθέσιμο Online:http://dx.doi.org/10.1007/1-4020-4367-8
Search Result 1
Έκδοση 2006
Full Text via HEAL-Link
Ηλεκτρονική πηγή Ηλ. βιβλίο